半导体元件检测,可程式高低温试验
- 供应商
- 无锡万博检测科技有限公司
- 认证
- 报价
- ¥100.00元每件
- 联系电话
- 13083509927
- 手机号
- 18115771803
- 销售经理
- 奚家和
- 所在地
- 无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
- 更新时间
- 2024-05-13 11:00
半导体元件检测,可程式高低温试验
测试程序,是用来控制测试系统的硬件。并且对每一次的测试结果,作出正确(pass)或失效(fail)的判断。如果测试结果,符合其设计的参数值,则 pass。 相反地,不符合设计时,则为fail。测试程序,也可以依测试结果及待测物的特性,加以分类。例如:一颗微处理器,在 200mhz 的频率之下运作正常,可以被分类为a 级「bin 1」。 另一颗处理器,可能无法在 200mhz 的频率下运作,但可以在 100mhz 的频率下运作正常,它并不会因此被丢弃。可以将它分类为 b 级「bin 2」。并且将它卖给不同需求的客户。测试程序,除了能控制本身的硬件之外,也必须能够控制其它的硬设备。 比如分类机、针测机。
在测试过程中需要使用的一些硬件,比如,socket,test board,change kit,gold unit,binshot,cable等,这些硬件需要反复领用并记录领用的工程师和具体的测试机台,但是在erp中进行管理,会比较复杂,所以需要单独的系统进行管理(testcontrol center),并且和eap系统进行关联集成,自动计算此硬件的寿命。
tcc系统的架构如下:
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