半导体行业检测机构，cl01-12二极管检测

半导体行业检测机构，cl01-12二极管检测

测试的目的是在找出没问题的芯片的同时尽量节约成本。芯片复杂度越来越高, 为了保证出厂的芯片质量不出任何问题,需要在出厂前进行测试以确保功能完整性等。而芯片作为一个大规模生产的东西, 大规模自动化测试是的解决办法,靠人工或者说基准测试是没法完成这样的任务。

半导体可靠性测试主要分为环境试验和寿命试验两个大项，其中环境试验中包含了机械试验（振动试验、冲击试验、离心加速试验、引出线抗拉强度试验和引出线弯曲试验）、引出线易焊性试验、温度试验（低温、高温和温度交变试验）、湿热试验（恒定湿度和交变湿热）、特殊试验（盐雾试验、霉菌试验、低气压试验、静电耐受力试验、超高真空试验和核辐射试验）；而寿命试验包含了长期寿命试验（长期储存寿命和长期工作寿命）和加速寿命试验（恒定应力加速寿命、步进应力加速寿命和序进应力加速寿命），其中可以有选择的做其中一些。

可靠性试验

1.温度下限工作试验:受试样品先加电运行测试程序进行初试检测。在受试样品不工作的条件下，将箱内温度逐渐降到0℃,待温度稳定后，加电运行测试程序5h，受试样品功能与操作应正常，试验完后，待箱温度回到室温，取出样品，在正常大气压下恢复2h。

推荐检验标准：受试样品功能与操作应正常，外观无明显偏差。