半导体可靠性测试标准，中性盐雾试验国家标准

半导体可靠性测试标准，中性盐雾试验国家标准

半导体产品，又被称为集成电路或者ic，英文名是semiconductor device。在半导体测试中常用dut(deviceundertest)来表示需要检测的ic单元。半导体测试的主要目的，是利用测试设备执行设定好的测试工作，然后对得到的各项参数值进行判断是否符合设计时的规范，而这些参数值会记录在规格表(devicespecifications)中。

半导体检测的测试系统称为ate，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式的合体，用于模仿被测器件将会在应用中体验到的操作条件，以发现不合格的产品。

测试系统硬件由运行一组指令(测试程序)的计算机控制，在半导体检测时提供合适的电压、电流、时序和功能状态给du测试的结果和预先设定的界限，做出相应的判断。

半导体测试的主要目的，是利用测试机执行被要求的测试工作。并保证其所量测的参数值，是符合设计时的规格。而这些规格参数值，一般会详细记录于的规格表内。
一般测试程序会依测试项目，区分成几种不同的量测参数。例如直流测试(dc test)、功能测试(functiontest)、交流测试(ac test)。直流测试，是验证 device的电压与电流值。功能测试，是验证其逻辑功能，是否正确的运作。交流测试，是验证是否在正确的时间点上，运作应有的功能。