大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
主要特点:
*多通道光谱仪可以在大光谱范围内实现高精度测量。
*时序准确,各通道严格同步(本产品与同类产品的优势)
*结构紧凑
*价格经济,若通道数目较多,USB2平台多通道光谱仪的价格约为相同数量单通道光谱仪价格的80%。

近红外光谱主要是由于分子振动的非谐振性使分子振动从基态向高能级跃迁时产生的,记录的主要是含氢基团X-H(X=C、N、O)振动的倍频和合频吸收。不同团(如甲i基、亚甲i基,1苯环等)或同一基团在不同化学环境中的近红外吸收波长与强度都有明显差别,NIR光谱具有丰富的结构和组成信息,非常适合用于碳氢有机物质的组成与性质测量。但在NIR区域,高动态范围分光光谱仪,吸收强度弱,灵敏度相对较低,高感度光谱分析仪,吸收带较宽且重叠严重。因此,光谱仪,依靠传统的建立工作曲线方法进行定量分析是十分困难的,化学计量学的发展为这一问题的解决奠定了数学基础。

各种因素对吸收谱带的影响表现为谱带位移、谱带强度的变化、谱带精细结构的出现或消失等。谱带位移包括蓝移(或紫移,hypsochromicshift or blue shift))和红移(bathochromic shift or redshift)。蓝移(或紫移)指吸收峰向短波长移动,红移指吸收峰向长波长移动。吸收峰强度变化包括增色效应(hyperchromiceffect)和减色效应(hypochromiceffect)。前者指吸收强度增加,后者指吸收强度减小。各种因素对吸收谱带的影响结果总结于右图中。

光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
分光仪;分光光度计;
大塚电子(Otsuka Electronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备...