相位差光学材料量
产品特点:可更加精准的量测低相位差(0.1nm~)Zui适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪,展现任一个波长的高精度相位差量测。
购买须知
1、厂家货源正i品
日本原装。
2、关于尺码
按照出厂产品资料有说明。
3、关于颜色
按照出厂产品资料有说明。
4、关于客服
客户全天24小时在线,如需紧急处理,请致电公司 。
5、关于售后
日本产品保修一年,消耗品不再维修范围内。

本软件,通过自动制御偏光三棱镜单元和瞬间多通道测光检出器以及自动XY平台来实施cellgap检查每个样品都备有检查菜单,并且样品可自动运输,操作员只需选择检查菜单便可轻松完成高精度的测定。

偏光计测模组是用CCDcamera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern,因与以往的偏光计测装置相比,rets,其无偏光子回旋机构,rets相位差膜测试,故其可维持其高精度的测定及稳定的性能。
因本系统为精密光学测定装置,作为设置场所,rets轴角测试,请考虑以下条件。万一,下记条件未被满足的场合,本系统的性能有可能无法发挥其.请注意。
光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
分光仪;分光光度计;
大塚电子(Otsuka Electronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备...