本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCDCell(TN,RETS,IPS,MVA)的Gap以及Pre-tilt角。
本设备是利用瞬间多通道测光检出器和自动大型X-Y平台以及偏光光学系,测定透过型液晶面板面内的cellgap和预斜角(含MVA)的系统。通过多折射位相差(RE.)来计算液晶封入后的液晶基板的cellgap值,大塚RETS-100,测定精度高。

本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCDCell(TN,RETS-100吸收轴测试,IPS,MVA)的Gap以及Pre-tilt角。附有自动XY-stage以及自动倾斜旋转stage的2个Samplestage。Calibration时,RETS预倾角测试,自动set基准sample。

产品特点:可更加精准的量测低相位差(0.1nm~)Zui适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪,展现任一个波长的高精度相位差量测。
购买须知
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光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
分光仪;分光光度计;
大塚电子(Otsuka Electronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备...