大塚QE QE 苏州大塚电子有限公司

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 保修期内，万一由于制造上的不足而使本产品产生故障，大塚QE，则免费为您修理。但是，本产品的故障原因复合以下情况时，QE量子效率设备，则不在此保修内容内。荧光物质样品反射出的激发光在积分球内壁反复反射，再次照射到荧光物质样品上并使其荧光发光的过程，QE，被称作再次激发。

将样品放入粉体样品池，QE2000，安装在半球体积分球上。粉体样品池通过磁铁被固定在检验板上(温控系统情况下用无磁铁治具固定)。Xe激发光(光投射光纤)照射在样品表面的位置，可以通过安装在半球体积分球顶板上的监视窗口（图中未表示）进行确认。请将激发光波长设定在可见波长范围内并进行确认。将液氮气加热后形成的冷却氮气作为冷却媒体进行温控。在光电元件周围，由于蒸发后的氮气而产生无水分的雾气，需防止结露。为了防止结露，在半球体积分球上安装有排出氮气(请另外准备)的口。

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

为了补正此荧光发光成分，将Xe激发光(光投射光纤)的角度按照图中所示进行设置，将激发光的光点照射在检验板的硫i酸钡(或标准漫反射参考白板)面上进行测试。由此通过积分球内壁产生的漫射光，可以测试并补正被激发的荧光成分。

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