电镀测厚仪 测厚仪 一六仪器

江苏一六仪器   x射线荧光光谱测厚仪   一次性同时分析：23层镀层，镀锌测厚仪，24种元素

                                                   厚度di检出限：0.005um

性能优势

精密的三维移动平台

卓越的样品观测系统

先进的图像识别

轻松实现深槽样品的检测

四种微孔聚焦准直器，自动切换

双重保护措施，实现无缝防撞

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，测厚仪，提高测试精度

全自动智能控制方式，一键式操作!

开机自动退出自检、复位

开盖自动退出样品台，升起z轴测试平台，方便放样

关盖推进样品台，下降z轴测试平台并自动完成对焦

直接点击全景或局部景图像选取测试点

点击软件界面测试按钮，电镀测厚仪，自动完成测试并显示测试结果

     江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

       x荧光涂镀层测厚仪测试原理

同样，l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层，此时就有能量Δe释放出来，且Δe=ek-el，这个能量是以x射线形式释放，产生的就是kα射线，同样还可以产生kβ射线 ，l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley)发现，荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关，其数学关系如下: λ=k(z-s)-2这就是莫斯莱定律，式中k和s是常数，因此，只要测出荧光x射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光x射线定性分析的基础。此外，荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，覆层测厚仪，可以进行元素定量分析。

   江苏一六仪器有限公司  专业镀层测厚检测  欢迎来电详询！ 

 x射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。x射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征x射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散x射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。

电镀测厚仪-测厚仪-一六仪器由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）位于江苏省昆山市玉山镇成功路168号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前一六仪器在专用仪器仪表中享有良好的声誉。一六仪器取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。一六仪器全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。