江苏一六仪器 镀饰，首饰类镀层分析通用型测厚仪
技术参数
元素分析范围：氯（ci）-铀（u）
厚度分析范围：各种元素及有机物
一次性同时分析：23层镀层，24种元素
厚度zuidi检出限：0.005um
zuixiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）
样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
仪器重量：55kg
膜厚仪是一种比较精密的监测设备，它在平时的使用中对于精准度的要求很高，但是还是会有误差的现象发生，除了仪器本身的一些故障以外，环境因素也是造成误差的一大“元凶”。
膜厚测试仪出现下列情况，必需重新校准。
1.校准时，输入了一个错误值；操作错误。
2.在直接方式下，如果输入了错误的校准值，应紧接着做一次测量，随后再做一次校准，即可获取新值消除错误值。
3.每一组单元中，只能有一个校准值。
4.零点校准和二点校准都可以重复多次，以获得更为精准的校准值，提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量，则校准过程便告结束。
选择膜厚测量仪须知
根据测量原理，涂层厚度计通常有五种类型：
1、磁性厚度测量：适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说，磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。
2、涡流厚度测量：适用于测量导电金属上的非导电层的厚度。这种方法比磁厚度测量精度低。
3、超声波厚度测量：目前国内尚没有用这种方法测量涂层厚度。国外一些厂家也有这种仪器，多层涂敷厚度测量的应用是上述两种方法无法测量的情况。但一般价格昂贵，测量精度不高。
4、电解厚度测量方法：此方法不同于上述三种，不属于ndt，膜厚仪价格，需要破坏涂层。一般精度不高。
5、辐射厚度测量：该仪器非常昂贵（通常超过10万元人民bi），膜厚仪原理，适用于某些特殊场合。
一次性同时分析：23层镀层，膜厚仪，24种元素
厚度zuidi检出限：0.005um
zuixiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离：0-90（测试凹槽，测膜厚仪，可变焦）
影响膜厚仪测量的的客观因素
耦合剂对膜厚仪的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，当使用在光滑材料表面时，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次，耦合剂应适量使用，涂抹均匀，一般应将耦合剂涂在被测材料的表面，但当测量温度较高时，耦合剂应涂在探头上。
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