江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和efp算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、led和照明、家用电器、通讯、汽车电子、*工等制造领域。
先进的技术，专业的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。
荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，测厚仪，可以进行元素量分析。但是由于影响荧光x射线的强度的因素较多，除待测元素的浓度外，仪器校正因子，待测元素x射线荧光强度的测定误差，元素间吸收增加效应校正，测厚仪，样品的物理形态（如试样的均匀性、厚度，表面结构等）等都对定了分析结果产生影响。由于受样品的基体效应等影响较大，超声波测厚仪，因此，对于标注样品要求很严格，只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似，才能保证定量结果的准确性。
应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
软件算法
?大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法（经验系数法）。这个方法是测定几点实际的已知厚度样品，寻求想测定元素的荧光x射线强度和厚度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光x射线，楼板测厚仪，从而得到浓度值。
?另一个方法是理论演算的基础参数法（fp法）。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光x射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光x射线强度的组成一致。
?nbs-gsc法也称作理论alpha系数法。它是基于荧光x射线激发的基本原理，从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征x射线荧光强度的。基于此再计算lachance综合校正系数，然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强。它与经验系数法不同，这些校正系数是从“理论”上取得的，而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样，只要少数标样来校准仪器因子。展开全文