透射式电子显微镜TEM测试分析，形貌结构

透射式电子显微镜tem测试分析，用于纳米载药颗粒和纳米诊断探针等纳米材料的尺寸、形貌、结构和成分分析。

透射式电子显微镜设备参数如下：设备型号：fei tecnai g2 f20s-twin

技术指标：

点分辨率≤0.24nm

线分辨率≤0.102nm

信息分辨率≤0.14nm

加速电压：20kv-200kv；加速电压连续可调

放大倍数：小25倍，大≥ 1,000,000倍

 

能谱仪(eds)：分辨率优于136ev(mn ka线)

分析元素范围：b5-u92

扫描透射(stem)：分辨率≤0.19nm

放大倍数范围150x -230mx

数字化ccd照相系统：感应尺寸：4k×2.7k像素

像素大小≥9um×9um；动态范围≥14-bit

测试须知：

以下情况样品,拒绝进行测试:

1、铜网请使用200目或以上；测试中若发现碳膜破坏严重,将立即取出样品,以防止污染电镜；

2、测试样品颗粒一般应小于1um,测试中若发现颗粒过大易于脱落，须马上取出样品,避免掉落,防止污染电镜；

3、磁性样品会对电镜的电磁透镜造成伤害,本电镜拒绝测试；

4、低熔点样品(如铟、锡等)，会产生相变,其蒸气污染电镜,本电镜拒绝测试；

5、高聚物裂解温度需高于350℃,测试时请附上tga曲线图,否则拒绝测试；

6、对于有毒、易挥发、腐蚀性和放射性样品,本电镜拒绝测试；