sem电镜扫描成分分析

扫描电镜和能谱分析，简称sem-eds分析，可对金属材料、高分子材料、纳米材料、电子制造、半导体器件微区表面形貌、结构观察、元素成分分析的技术手段。

sem扫描电镜分析：利用阴极所发射的电子束经阳极加速，由磁透镜加速后形成一束直径为几十埃到几千埃的电子束流，这束高能电子束轰击到样品表面会激发多种信息，经过分别收集，放大就能从显示屏上得到各种相应的图像。sem主要利用背散射电子（bei）和二次电子（sei）来成像，可以对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察及成分分析。

eds能谱分析：x-ray energydispersive，入射电子束可停留在被观察区域上的任何位置.x射线在直径1微米的体积内产生,可对试样表面元素的分布进行质和量的分析，高能电子束轰击样品表面，激发各种信号。

eds通过特征x-ray获取样品表面的成分信息。优尔鸿信，拥有独立电镜实验室，面向全国，提供扫描电镜sem与eds分析测试服务，寄样即测。

扫描电镜sem与eds分析分析案例：

电镜实验室分析服务

锡须观察

颗粒物观察

动态翘曲度测量

sem+eds分析

形貌观察sem

微观尺寸测量

表面成分分析

离子浓度测试

沾锡能力测试

3dx-ray检测

dye＆pry红墨水分析

rosssection切片分析

c-sam超声波扫描分析

bondingtest焊点推拉力

工业ct断层扫描分析

imc观察-sem电镜观察

sir表面绝缘阻抗测试

ic-decapping芯片开封测试