芯片振动测试，电子元器件可靠性分析

芯片振动测试，电子元器件可靠性分析

incoming inspection. 系统厂商所为。一般是抽样进行的，过程可象上

面的测试，主要目的是为了防止在系统中使用坏的芯片，这引进的成本要远远高出inco

ming inspection的成本。

按测试特性分主要是功能测试（funcional tests）和电气参数测试（parametric

tests)。 parametric tests 有dc 和ac测试，dc 主要是短路（short），开路（open

），大电流（maximmum current），漏电流（leakage），输出驱动电流（output dr

ive current），开启电平（threshold）测试等。ac主要包括传输延时(propagation d

elay test），建立和保持时间(setup & hold)，速度测试（functional speed），访问

时间(access time), 等等。这些通常跟工艺有关。 功能测试主要是输入测试向量和响

应的一致性。功能测试可以覆盖极高比例的逻辑电路的失效模型。

4.test specification & test plan:

specification 应该包括以下一些内容：functional characteristics;

types of devices-逻辑电路，微处理器，存储器，模拟器件等；physical characteri

stics - 封装，引脚；工艺 - cmos, gate-array, standard cell等；evironmental

characteristics - 工作电压范围，供电电压等；reliability可靠性 - dpm( defecti

ve parts per million), 1000小时失效率，噪声特性等。

在test plan 中，指定测试系统和所需的测试。

5.test programming

当芯片已经放到测试系统上，做测试需要三个东西：1.test program; 2,

digital test vectors; 3. analog test waveforms. test program包括了tester 做

测试所需的一系列指令，举个例子，一个简单的可以是：加电压（apply power), 加时

钟信号和输入向量(apply clock and input vectors) , 测量输出引脚(probeoutput

pins)，比较输出和预期响应（compare output response with stored expectedresp

onse).

6. 测试数据分析

主要三个目的：accept/reject; provide info about fab process;provide

info about design weakness.

7. t6682简介

t6682 tester是advantest非常昂贵的高端测试系统，它的测试能力你参看它的网址，这里

就不说了(https://www.advantest.com.cn/chinese/t6682.htm)。主要功能模块如下：

alpg

(option--> ----------------- -----------

scpg pin data selector--> formatter ---

(option)-> ----------------- -----------<- pmu's(mdc/udc)

^ ^ ^ ^ a

___________________

rater generator --> timing

----------------- generator v

---> pe <--> dut --

---

test v

device power supplies

controller--> sqpg \ --^----> timing memory

\ /

ttb -v-----> waveform memory ---

data fail memory <----- digital compare<<br>

afm(w/alpg) <----------

this column is "frameprocessor"---->>>>>>>>> vvv

测试向量产生：sqpg - standard pattern generator;

alpg - algorithmic pattern generator;

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