半导体cv测试，冷热冲击试验国标

半导体cv测试，冷热冲击试验国标

电学法测热阻

标准测试步骤：

1.样品需要安装于冷板，冷板要求能保证温度基本稳定。

2.选择合适的加热（大）电流加电，使得样品结温上升。

3.在加热（大）电流关闭的瞬间即开始施加和测试（小）电流一样的电流，测量并记录降温过程的电压，直到样品温度和未加热前温度一致才完成测试，同时记录加热（大）电流关闭前后时刻的功率。

4.后利用监测到的电压拟合得出的曲线即可得到此次降温过程的结温变化。

5.和未升温前的环境温度相计算结温差，配合功率即可算出结环热阻。

6.热阻等于温升除以功率，rthjc=△t/△p