温度冲击试验标准、高低温冲击试验​

温度冲击试验可用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批生产阶段的例行试验中不可缺少的试验项目，在有些情况下也可以用于环境应力筛选。

　　温度冲击也称高低温循环冲击或者冷热冲击，此试验的机理是：利用物体中所含物质的在不同温度情况下因热胀冷缩所产生的应力考验产品的质量，一般有led都要做的，此实验本身是一个破坏性实验.温度范围 -45度---+105度 每隔半小时一个循环，一般要做至少50循环以上。

　　温度变化原因有很多，相关标准里面都有提及：

　　gb/t 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验n:温度变化

　　电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时，其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。

　　下列情况下，可预见的温度变化：

　　——当设备从温暖的室内环境转移到寒冷的户外环境，或相反情况时;

　　——当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时;

　　——安装于外部的机载设备中;

　　——在某些运输和贮存条件下。

　　通电后设备中会产生高的温度梯度，由于温度变化，元器件会经受应力，例如，在大功率的电阻器旁边，辐射会引起邻近元器件表面温度升高，而其他部分仍然是冷的。

　　当冷却系统通电时，人工冷却的元器件会经受的温度变化。在设备的制造过程中同样可引起元器件的温度变化。温度变化的次数和幅度以及时间间隔都是很重要的。

　　温度冲击试验用途

　　试验主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在温度急剧变化的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。该试验主要用于对产品按照国家军用标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。试验适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，，研位，等单位.