公司研发的第二代涂层测厚仪EC-770，采用标准化菜单设计，使操作变得真正简单，同时采用先进多点校准技术，可满足用户更高精度的应用需求，采用业内领先的测厚算法，显著提升实际测量的可靠性。我们是国内早研发涂层测厚的专业技术公司之一。我们相信，全新上市的新一代涂层测厚仪将是您选择。另外数据记录仪系列，拥有平台级数据记录与分析系统，与国际技术同步，强大的可扩展性，助您轻松完成各项数据记录与分析任务。