大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
颗粒大小与激光粒度分析仪
激光粒度分析仪
仪器分类
?静态激光
能谱是稳定的空间分布。主要适用于微米级颗粒的测试,粒径仪价格,经过改进也可将测量下限扩展到几十纳米。
?动态激光
根据颗粒布朗运动的快慢,通过检测某一个或二个散射角的动态光散射信号分析纳米颗粒大小,日本粒径仪,能谱是随时间高速变化。动态光散射原理的粒度仪仅适用于纳米级颗粒的测试。

激光粒度仪的测量原理要求在测试过程中,粒径仪,样品的浓度以样品中颗粒之间相互不发生二次散射为原则,理论上就是要求悬浮液或者空气中颗粒之间的距离为颗粒直径的3倍,但是这个要求非常难以掌握,因此在实际的粒度测试中,粒径仪测试设备,通过调整遮光比的数值来尽量保证颗粒之间不发生二次散射。

产品特点对应高盐浓度溶液界达电位 。可量测0-90℃宽阔的温度范围。可量测悬浊度的高浓度样本粒径。搭载自动温度梯度测量功能,可分析变性、相变温度。通过i新型的高感度APD提高感光度,成功缩短了量测时间。

光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
分光仪;分光光度计;
大塚电子(Otsuka Electronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备...