粒径测量原理:动态光散射法(光子相关法)
溶液中的粒子会呈现出 依赖于粒径的布朗运动。因此,当光照射到此粒子上而得到的散射光会出现浮动,小粒子浮动速度快,大粒子浮动速度慢。
通过光子相关法解析这种浮动,ELSZ粒度仪,从而求出粒径或粒度分布。
电气浸透流的多成分解析的应用
因ELSZ serie实测了cell内的多个点的表面的电气泳动移动度,在测量数据内可确认出ZETA电位分布的在现性及判断噪音峰值。

电气浸透流的多成分解析的应用
因ELSZ serie实测了cell内的多个点的表面的电气泳动移动度,在测量数据内可确认出ZETA电位分布的在现性及判断噪音峰值。
平板cell的应用
平板cell指的是在箱状的石英cell上面,密集的放置平板样品,使之成一体化的构造。 根据cell的深度方向的各个级别,ELSZ粒径设备仪,实测monitor粒子表面的电气泳动移动度
根据得到的的电气浸透profile解析在固体界面中的电气浸透流的速度,进而求出平板样品表面的ZETA电位。

粒径测量原理:动态光散射法(光子相关法)
溶液中的粒子会呈现出 依赖于粒径的布朗运动。因此,大塚ELSZ,当光照射到此粒子上而得到的散射光会出现浮动,ELSZ,小粒子浮动速度快,大粒子浮动速度慢。
通过光子相关法解析这种浮动,从而求出粒径或粒度分布。


光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
分光仪;分光光度计;
大塚电子(Otsuka Electronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备...