FE膜厚仪 FE 苏州大塚电子公司

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

石英材质液体比色皿，FE，光学透过率大于98%，全波段无荧光反应，用于液体样品测试（3个）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

FE3000反射式膜厚量测仪:主要测试项目：量子效率测定，FE-3000，量子效率的激发波长依赖特性，发光光谱、反射光谱测定，透过、吸收光谱测量，FE3000厂家，PL激发光谱，颜色演算（色度、色温、演色性等）利用二次激发荧光校正功能去除再激发荧光发光。

解析非线性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/适化法

基板解析/里面反射补正/各类nk解析模型式

绝i对反射率/解析结果Fitting/折射率n的波长相关性/消光系数k的波长相关性

3D显示功能（面内膜厚分布、鸟窥图、等高线、断面图）

本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

基本规格

(1) 测试样品及环境

(a) 样品：粉状样品

(2) 仪器的功能

(a) 激发荧光样品，对荧光光谱进行测试。

(b) 为了消除积分球内反射的激发光而激发的荧光，配有“再激发修正”功能。

(c) 具有对样品的量子效率、反射、吸收作测试的功能。

(d) 样品设置采用手动方式。

(e) 可实现控温和量子效率测试同步进行的功能。

(3) 仪器的构成

(a) 暗箱内部置有积分球光学系统。

(4) 温控单元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加热器加热、风冷制冷。

(c) 温控部分的周围采用冷却水循环、断热。

(d) 控制用温度探头是一个具备独立的防止过度升温的温度探头。

FE膜厚仪-FE-苏州大塚电子公司由大塚电子(苏州）有限公司提供。大塚电子(苏州）有限公司（www.otsukael.com.cn）在机械加工这一领域倾注了诸多的热忱和热情，大塚电子一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创。相关业务欢迎垂询，联系人：曹先生。