大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
1.膜厚测试仪出现下列情况,必需重新校准。 ·校准时,输入了一个错误值; ·操作错误。 2.在直接方式下,如果输入了错误的校准值,应紧接着做一次测量,OPTM,随后再做一次校准,即可获取新值消除错误值。 3.每一组单元中,只能有一个校准值。 4.零点校准和二点校准都可以重复多次,OPTM优点,以获得更为精准的校准值,提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量,则校准过程便告结束。
膜厚仪在电气安全方面按照要求正常使用仪器,OPTM设备,就不会对人造成任何危险或损害。膜厚仪包含传导线电压的元件,它是按照准则的安全条款设计的。必须遵循仪器安全条款和准则有关仪器操作的规定! 电源连接为避免损坏仪器,供电电压必须与膜厚仪铭牌上的电压一致。仪器必须使用三相插头连到一个已接地的插座上。

硬涂层膜厚度的测量[FE-0004]
近年来,使用具有各种功能的高i性能薄膜的产品被广泛使用,并且根据应用不同,还需要提供具有诸如摩擦阻力,抗冲击性,OPTM反射率测试,耐热性,薄膜表面的耐化学性等性能的保护薄膜。通常保护膜层是使用形成的硬涂层(HC)膜,但是根据HC膜的厚度不同,可能出现不起保护膜的作用,膜中发生翘曲,或者外观不均匀和变形等不良。 因此,管理HC层的膜厚值很有必要。


光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
分光仪;分光光度计;
大塚电子(Otsuka Electronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备...