江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和efp算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、led和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
一． 磁吸力测量原理镀层厚度分析仪
长久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。
x射线荧光光谱分析仪结构及组成：用x射线照射式样时，测厚仪厂家，试样可以被激发出各种波长的荧光x射线，需要把混合的x射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的x射线的强度，以进行定性和定量分析，光谱膜厚仪，为此试用的仪器叫x射线荧光光谱仪。由于x光具有一定的波长，同事又有一定能量，宁德测厚仪，因此，x射线荧光光谱仪有2种基本类型：波长色散型（wd）和能量色散性（ed）。
波长色散型是由色散元件将不同波长的特征x射线衍射到不同的角度上，探测器需移动到想要的位置上来探测某一波长能量的射线。而能量色散型，是由探测器本身的能量分辨本领直接探测x射线的能量。波长色散型谱线分辨本领高，而能量色散型可同时测量多条谱线的能量。
x射线荧光测厚仪操作注意事项：
测厚仪操作时候需要注意的：
技术指标：
1 分析元素范围：cl（17）-u（92）
2 同时可分析多达5层镀层以上
3 分析厚度检出限高达0.01μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5测量时间：5s-300s
6 计数率：0-8000cps
测厚仪操作流程
打开仪器开关----在电脑上开启软件-------开高压钥匙-------联机------预热-----峰位校正------新建程式------选择相应的程式-----测试样品----出报告
展开全文