比表面分析表面分析方法表面分析检测报告

简述

表层科研的是表层和与表层相关的宏观经济和外部经济全过程，从分子水准了解和表明表层分子的有机化学、几何图形排序、运动状态、电子器件态等特性以及与表层宏观经济特性的联络。表层剖析的具体内容有：

（1）表层有机化学构成：表层元素组成，表层原素的遍布，表层原素的有机化学态，表层离子键，化学变化等；能用技术性：xps（x- rayphotoelectron spectroscopy，x射线光电子能谱）、aes（auger electronspectroscopy，俄歇电子能谱仪）、sims（secondary ion massspectroscopy，二次正离子质谱分析）、iss（ ion scatteringspectroscopy，正离子透射谱）。

（2）表层原子结构：表层分子的几何图形配备，明确原子间的部位。表层弛豫时间，表层再构，表层缺点，表层外貌；能用技术性：leed（lowenergy electrondiffraction，低要电子衍射）、rheed（reflection high - energyelectron diffrac-tion，双光束较高能电子衍射）、exafs（extended x- ray absorptionfine structure，拓展x射线消化吸收精细结构谱）、spm（scanning probemicroscope，扫描仪探头光学显微镜）、fim（field ion microscope，场正离子光学显微镜）。

（3）表层分子态：表层分子震动情况，表层吸咐（吸咐能、吸咐位）、表层外扩散等；能用技术性：eels（electron energyloss spectroscopy，电子能量损害谱）、rairs（reflection absorption infraredspectroscopy，反射面消化吸收红外线谱）。

（4）表层电子器件态：表层电子密度遍布及动能遍布（dos）、表层电子能级特性、表层态密度遍布、价带构造、功函数、表层的元激起。能用技术性：ups（ultravioletphotoelectronspectroscopy，紫外线光电子能谱）、arpes（angle resolved photoemis-sionspectroscopy，角辨别光电子能谱）、stm（scanning tunnelingmicroscope，扫描仪隧道施工光学显微镜）。

二十世纪六十年代金属外壳极高真空泵（uhv）技术性商业化后，巨大地推动了表层和页面科学研究的发展趋势，开发设计了多种多样表层剖析技术性，这种技术性遮盖了电子器件和正离子谱、表层构造测定法及其分子显像方式等，能用以从分子、分子结构的外部经济限度七获得大量表层构成与特性的基础知识。白七十年代至今，伴随着全球范匍内的半导体材料工业生产、电子信息技术和航天工程的盛行，对表层、页面科学研究和剖析的高度重视和要求做到r李前的程度，也促进了表层科学研究和技术性的和不断发展趋势。表层产生的全过程对从半导体技术到异像催化反应等各行各业具备巨大的应用性和关键实际意义，对同体表层有关的难题的科学研究慢慢变成基础学科科学研究的前沿。

归类: 1. 表层外貌剖析

      2. 表层成分检测

      3. 表层有机化学情况剖析

      4. 表层色调、偏色检测

      5. 表层相结构特征

      6. 表层应力分析

      7. 粗糙度检测

      8. 表层脏东西剖析

      9. 表层失灵说明

     10.表层工艺处理分辨