T-100-P 探针台系统（升级型）国产4寸探针台

t-100-p 4寸探针台系统（升级型）、晶圆测试台、手动探针台

一款适用于4英寸及以下晶圆测试的标准探针台，也可用于单个器件，或样片的测试。

常用于搭配晶体管图示仪、数字源表或者半导体参数分析仪，对器件的 iv、cv、脉冲/动态 iv 等参数进行测试；

可用于测试的器件如：cmos晶体管、双极晶体管、分立器件、存储器、功率器件、纳米器件等；应用场景如研发阶段的芯片测试，生产中芯片或晶圆的抽样检测，或是器件可靠性测试等。

另有丰富的测试辅助配件供选择，如防震光学平台、测试屏蔽箱、加热控制器等。

整个探针台系统占用空间小，操作灵活，简单易用。能满足用户对产品的基本测试要求，是小型实验室，检测部门的不错选择！

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