江苏一六仪器 专业涂镀层检测 pcb板材 线路板大板件类x荧光光谱膜厚仪
膜厚仪电涡流测量原理
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,膜厚仪原理,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,膜厚仪,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,膜厚测试仪,量程10mm的高水平。
卫浴板件类镀层光谱测厚仪
元素分析范围:氯(ci)-铀(u)
厚度分析范围:各种元素及有机物
一次性同时分析:23层镀层,厚膜测试仪,24种元素
厚度zuidi检出限:0.005um
zuixiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离:0-90(测试凹槽,可变焦)
膜厚仪的特点
1、搭载样本尺寸的兼容性可适用于各种样本,能够通过一台仪器量测,从电子部件、电路板到机器部件等高度较高的样本,从较厚的样本(机器零部件)之大型线路板(pcb)及电子元器件等
2、卤素灯照明
3、即时生成量测报告的便捷性。运用搭载的microsoftword?excel?可以简单轻松得到制作报告
4、多种修正作用。基材修正、已知样本修正、人工输入修正
5、 膜厚仪 搭载了电动X-Y移动平台
技术参数:
元素分析范围:氯(ci)-铀(u)
厚度分析范围:各种元素及有机物
一次性同时分析:23层镀层,24种元素
厚度zuidi检出限:0.005um
zuixiao测量面积:0.002m㎡
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度,常见的铝基,铜基氧化,测量时候用涂层测厚仪选择n(非磁性)探头,这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理,配f合n探头,或者fn一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米,但是普通的涂层测厚仪误差比较大,需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层,比如中科朴道的pd-ct2涂层测厚仪就可以测量氧化层。