大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
自动光学检查是工业制程中常见的代表性手法,利用光学方式取得成品的表面状态,以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵。英文名叫AOI(AutomaticOpticInspection)的全称是自动光学检测,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。AOI是近几年才兴起的一种新型测试技术,多通道光纤光谱仪,但发展迅速,目前很多厂家都推出了AOI测试设备。当自动检测时,近红外光谱仪,机器通过摄像头自动扫描PCB,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出PCB上缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来,供维修人员修整。

产品特点高动态范围(HDR)光谱仪可量测透明、低对比、高反射率样品,Zui适用于量测光通量。有效抑制杂散光,Zui适合UV光谱分析。相较于本公司历代分光光度计,杂光率仅约五分之一!曝光时间5msec~65sec*。适用于量测微弱光源以及架设于生产线上即时检测等多元应用。经过特殊设计缠绕的光纤,光谱仪,展现稳定的重复再现性量测。小巧轻量化的设计,相较于历代机型,容积比约减少60%。

使用紫外光谱仪时需要注意什么
使用环境温度不能太高
光谱仪在使用时如果环境温度太高,也会影响光谱仪的测量精度,会出现位移偏差,所以一般情况下,光谱仪都是默认在常温环境下使用。实验室还要时刻保持整洁干燥,以确保所获得的实验效果能够达到Zuii佳。

光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
分光仪;分光光度计;
大塚电子(Otsuka Electronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备...