射频QFN48socket QFN48合金探针测试座 老化座

※采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;

※上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,保证ic的压力均匀,不移位; 

※探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；

※高精度的定位槽和导向孔，保证ic定位，测试效率高；

※测试频率可达9.3ghz； 

※用途：集成电路应用功能验证测试；

※可根据用户要求定做各种阵列的socket 

※有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便； 

※可根据用户要求定做各种阵列的socket

适用于ic设计公司作芯片的样片功能验证使用

芯片封装参数：qfn48  间距0.5mm  尺寸7*7mm
根据客户要求，达到3ghz频率，电流200ma 

采用进口探针，测试寿命可达8-10w次