测试范围广（19大类）半导体曲线图示仪

系统软件支持

器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为windows或windowsnt的pc机上usb接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。

一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。

概述

en-2005c测试系统通过pc机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下，这些源与条件负载按照条件准确的连接，其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。

测试系统特点

iv曲线显示/局部放大，程序保护电流/电压,以防损坏，品种繁多的曲线，可编程的数据点对应，增加线性或对数，可编程延迟时间可减少器件发热，保存和重新导入入口程序，保存和导入之前捕获图象，曲线数据直接导入到excel，曲线程序和数据自动存入excel，程序保护电流/电压,以防损坏，测试范围广（19总大类，27分类）