烟台优尔鸿信CNAS|HAST老化+HTRB偏压可靠性验证

在电子元器件可靠性验证体系中，HAST（高加速应力试验）与HTRB（高温反偏压试验）是两项应用广泛的加速寿命测试手段。HAST通过高温、高湿与高压的复合应力，在短时间内模拟产品长期使用中的湿热老化效应，快速暴露封装、焊点及材料的潜在缺陷；HTRB则在高温环境下对元器件施加反向偏压，重点评估PN结在热应力与电应力耦合作用下的退化情况，广泛应用于二极管、晶体管、LED等分立器件的寿命评估。两项测试相互补充，可为产品设计验证与量产质控提供量化的可靠性数据。

双资质实验室，报告获多国认可

优尔鸿信检测烟台实验室持有CNAS实验室认可与CMA检验检测机构资质认定双证书，严格依据ISO/IEC 17025管理体系运行，测试流程规范、数据可追溯。实验室配备专业温湿度控制箱、高精度源表及数据采集系统，检测报告获多个国家和地区认可，适用于新品研发验证、车规级及量产可靠性筛选等场景。

核心测试项目一览

服务案例：以数据驱动产品可靠

案例一：某车企供应商的车规级二极管在HAST试验中168小时后出现漏电流超标，优尔鸿信联合切片分析，发现芯片边缘钝化层存在微裂纹，指导客户优化钝化工艺，二极管HAST通过时间由168小时提升至500小时以上，满足AEC-Q101标准要求。

案例二：某LED照明企业大功率LED在HTRB试验中光衰超标，实验室通过分段HTRB结合光学参数追踪，定位到金线键合点在高温反偏下出现退化，协助客户调整金线材质与焊接参数，光衰幅度控制在5%以内，产品顺利通过客户验证。

优尔鸿信检测可提供定制化HAST与HTRB测试方案，常规项目7个工作日内交付报告，支持加急处理。如您有HAST老化或HTRB偏压可靠性验证需求，欢迎咨询洽谈，以专业检测助力产品可靠性持续提升。