Phasics SID4-Swir 波前传感器

sid4-swir波前传感器

基于phasics专利的四波横向剪切干涉技术和高质量的ingaas探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，sid4swir提供了光谱范围从0.4到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。

 特点：

由于其独特的专利技术技术，phasics的sid4-swir波前传感器具备以下特点：

1.高分辨率：160x128测量点

2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm

3.消色差：0.4-1.7μm（可扩展到2.4μm）

4.紧凑：易于集成

应用：

透镜测试：sid4 swir波前分析仪实时测量光学元件mtf和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差，sid4swir涵盖所有光通信波长。

激光束测试：sid4 swir也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的led。

sid4-swir产品参数：