NanoScan小光束狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪NS2s-SI/3.5/1.8-STD

供应商
深圳市嘉士达精密仪器有限公司
认证
品牌
OPHIR
型号
NS2s-SI/3.5/1.8-STD
应用
狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪
联系电话
4006608810
全国服务热线
18820263964
经理
徐小凤
所在地
西乡街道臣田社区宝民二路东方雅苑A100
更新时间
2024-11-09 09:00

详细介绍

该nanoscan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器,jingque捕获和分析190nm -1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征,且可在连续或khz脉冲模式下工作,非常适合于对uv、vis和nir激光进行全面分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率级范围为~10nw至~10w

usb 2.0接口

包含nanoscan标准或专业软件

产品名称nanoscan 2ssi/3.5/1.8

传感器类型siliconphotodetector

光谱范围190 to 1100 nm

狭缝尺寸1.8 µm

孔径尺寸3.5 mm

光束尺寸7 μm to 2.3 mm

扫描头尺寸83 mm

功率范围10 nw to 10 w

通信usb 2.0

订购信息:  ns2s-si/3.5/1.8-stdstandard软件       ph00456

                   ns2s-si/3.5/1.8-proprofessional软件 ph00464

为什么不建议使用硅nanoscan进行1064nm光束测量?

硅探测器对>1000nm的近红外光非常透明。如果它用于测量这些光束,你经常会看到拖尾轮廓,因为信号衰减得不够快。这将导致错误的结果。我们建议使用锗,或者如果有足够的功率,使用这些波长的热电探测器


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