少子寿命少数载流子寿命测试

少数载流子寿命少数载流子寿命少子寿命

载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。而非平衡载流子一般也就是非平衡少数载流子（因为只有少数载流子才能注入到半导体内部、并积累起来，多数载流子即使注入进去后也就通过库仑作用而很快地消失了），所以非平衡载流子寿命也就是指非平衡少数载流子寿命，即少数载流子寿命。

少子寿命测试仪性能参数：

1.测量原理：QSSPC（准稳态光电导）； 

2. 少子寿命测量范围：100ns-10 ms；

3.测试模式：QSSPC，瞬态，寿命归一化分析；

4. 电阻率测量范围：3–600(undoped) Ohms/sq.；

5.注入范围：1013-1016cm-3；

6.感测器范围：直径40-mm；

7. 测量样品规格：标准直径:40–210 mm （或更小尺寸）；

8.硅片厚度范围：10–2000  μm；

9.外界环境温度：20°C–25°C；

10. 功率要求：测试仪： 40W ，  电脑控制器：200W ，光源：60W；

11.通用电源电压：100–240 VAC 50/60 Hz；