材料表面成分分析，元素价态，深度剖析

 x射线光电子能谱仪(xps)+饿歇电子能谱仪(aes)

xps利用光电效应的原理，测量x射线激发出的光电子能量和计数，对样品表面几个纳米深度的范围内进行半定量的成分和化学态分析；aes利用电子激发出的俄歇电子，对表面进行微区的成分和化学态分析。

测试范围：

除h和he之外的所有元素

分析深度约5nm(aes约3nm)

检测下限约0.1%

空间分辨率约30μm(aes约10nm)

服务项目：

各种固体表面的元素成分

化学价态

分子结构分析

深度剖析

深圳市启威测标准技术服务有限公司提供的专业、高效、实惠的分析测试服务可以帮助客户节省昂贵仪器费用，管控产品质量，分析产品配方及加速产品研发。

热分析：dsc、tga、dsc-tga、tma、dma、旋转流变仪

色谱分析：gpc、gc、 gc-ms、lc、lc-ms

光谱分析：icp、xrf、ftir、xrd

核磁分析nmr：1h、13c、29si 、31p、17o谱

质谱分析: 高分辨率、低分辨率质谱

粒度分析：马尔文激光粒度仪、 bet比表面积测试仪

电镜分析：sem、tem、afm;