一、 概述
gds-80晶振综合测试仪以单片机为核心，进行功能切换，测量控制，数据处理。采用倒数测量计数技术，实现了全范围内的等精度测量。日稳5 10-7 / 日的恒温晶体振荡器，保证了测量数据的可靠性。 gds-80型晶振测试仪/ppm计具有频率、周期、累计、ppm等测量功能，并根据用户的需要，可增添合适的功能。
二、使用的环境条件 工作环境温度：0 40℃相对温度： 90 三、技术参数3.1 测量范围：3.1.1 频率测量范围：0.1 hz ~ 100 mhz3.1.2 周期测量范围：10 ns ~ 10 s3.1.3 计数容量：1 10 8 3.1.4 ppm：1ppm3.2 动态范围：50 mv ～ 1.5 vms3.3 输入耦合方式：ac 3.4 闸门时间：0.01s 、0.1s 、1s（可设定）3.5 准确度： 时基准确度 触发误差 被测频率（周期） lso 其中lso = （100 ns / 闸门时间） 被测频率 （被测周期）3.6 时基： 3.6.1 标称频率：10 mhz3.6.2 频率稳定度：5 10 7/d 3.7 显示： 九位led数码管显示3.8 电源： 220 v 22 v 50 h z 2.5 hz3.9 整机功耗： 10 va3.10 可靠性：平均无故障工作时间mtbf 10000 h
基本介绍
智慧源晶振测试系统，石英晶振测试设备gds-80是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合iec-444标准。智慧源晶振测试系统，石英晶振测试设备gds-80测量频率范围20khz-100mhz，附rs-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。
智慧源晶振测试系统，石英晶振测试设备gds-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。智慧源晶振测试系统，石英晶振测试设备gds-80测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、ppm值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20p范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。
性能特点
1. 阻抗值、ppm同时显示
2. 无需人工校对，直接测试多种参数
3. 新技术，符合iec-444标准，满足国人需求，可替代进口设备
4. lcd显示ppm超标提示功能
技术参数
1. 中心频率范围： 20khz-100mhz任意设定
2. 负载电容：4-20p 任意设定
3. 负载谐振电阻：1Ω-300Ω 1k-300k
4. ppm范围测量：±300ppm
5. ppm测量精度：<0.5ppm
6. 时基频率：16.384m
7. 晶振稳定性：2×10-8/日
8. 体积：80×235×305（mm）
9. 保修期：三年
使用说明
晶振测试仪/晶体阻抗计gds-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、ppm值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20p范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。
特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。
采购须知
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