高阻硅检测机构，高阻硅电学性能测试——CMA/CNAS资质报告 全国认可

复达检测具有CMA、CNAS等资质，服务面向全国，上海、北京、天津、石家庄、西安、太原、兰州、乌鲁木齐、呼和浩特、沈阳、哈尔滨、济南、郑州、武汉、合肥、南京、苏州、杭州、长沙、南昌、成都、重庆、昆明、南宁、贵阳、福州、广州、深圳等等地区均设有分部，专注分析、检测、测试、鉴定、研发五大服务领域。

高阻硅检测项目旨在确保半导体材料在高频器件与集成电路制造中的性能可靠性，通过系统性评估预防工艺失效风险，提升产品良率与市场竞争力。

【检测周期】5-7个工作日（供参考，可加急）

检测项目

外观质量、电阻率测试、电学性能测试、载流子寿命检测、表面粗糙度评估、杂质含量分析、位错密度测定、几何参数验证、电学性能测试、热稳定性评估、常规检测、第三方检测等。（具体以客户实际情况为准）

检测范围

涵盖直拉法单晶硅、区熔法单晶硅及多晶硅等高阻硅材料等。

检测标准（部分）

1、 GJB 2918-1997 探测器级高阻区熔硅单晶片规范

2、 GJB 2918A-2017 探测器级高阻区熔硅单晶抛光片规范

3、 T/ZZB 1735-2020 晶体硅太阳电池组件用高阻隔绝缘背板

4、 JIS H 0602:1990 硅晶圆和硅片电阻率的测试方法

5、 GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

6、 GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

【检测优势】

<专业技术人才>

拥有超过700名专业人员，其中技术团队90%以上毕业于国家“985”“211”等重点高校，具有硕士、博士学位。

<专业仪器设备>

500余台（套）专业仪器设备，包括红外光谱（IR）、核磁共振（NMR）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体发射质谱仪（ICP-MS）、液相二级质谱（LC-MS-MS）、气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）、高效液相色谱（HPLC）、气相色谱仪（GC）、X射线荧光光谱(XRF)、ASE快速溶剂萃取仪等；

<资质认可>

获得中国合格评定国家认可委员会颁发的实验室认可证书（CNAS）、质量技术监督局颁发的检验检测机构资质认定证书（CMA）。

<服务客户>

累计为公检法单位、高校及科研机构、企业等超过10万家客户提供咨询、分析、检测、测试、鉴定研发等技术服务。

【检测流程】

1、联系客服、沟通检测需求；

2、根据实际情况确定样品递送流程、上门取样、送样、邮寄样品；

3、对样品进行初步、获取样品的特性以及相关指标；

4、根据客户的需求、根据检测经验及标准方法、定制试验方案；

5、进行试验、得到试验数据、出具测试报告；

6、完善的售后服务、可随时咨询；