透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscopy) 检测，利用电子束穿透试样获得高分辨像，实现纳米尺度形貌、晶体结构、成分与缺陷分析。
试样减薄 / 离子束制样；TEM 明场 / 暗场成像、高分辨 HRTEM、选区电子衍射 (SAED)、能谱 (EDS) 成分面扫 / 点扫。
纳米材料、薄膜、金属 / 合金试样、陶瓷、催化剂、高分子、半导体晶片、失效切片、生物试样。
形貌观测、晶粒尺寸 / 分布、位错 / 层错 / 晶界、晶格条纹、物相衍射标定、微区成分、界面结构、缺陷类型与密度。
GB/T 17729 电子显微镜试样制备
GB/T 30703 透射电镜分析方法
ASTM E2809 TEM 表征
ISO 13810 粉末 TEM 检测。
CMA检测资质 , CNAS检测资质 , TEM检测机构 , 第三方TEM检测 , TEM检测中心
气体检测,配方分析,失效分析,中药成分检测,油墨成分分析等
许可项目：第一类增值电信业务；第二类增值电信业务；检验检测服务。（依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动，具体经营项目以相关部门批准文件或许可证件为准）一般项目：自然科学研究和试验发展；技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广；信息技术咨询服务；科技中介服务；信息系统集成服务；软件开发；数据处理和存储支持服务；科普宣传服务；会
映山红智慧（北京）检测科技有限公司成立于2025年01月08日，注册地位于北京市海淀区五道口东王庄甲1号3幢5层504号，法定代表人为徐明。经营范围包括许可项目：第一类增值电信业务；第二类增值电信业务；检验检测服务。（依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动，具体经营项目以相关部门批准文件或许可证件为准）一般项目：自然科学研究和试验发展；技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广；信息技术咨询服务；科技中介...
