元器件测量
lcr测试仪im3536
dc，4hz~8mhz测量频率，今后的产品
im3536 日置（hioki）lcr测试仪
测量频率dc，4hz~8mhz
测量时间：快1ms
基本精度：±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
可内部发生dc偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中
主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。
基本参数
测量模式 lcr（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）
测量参数 z, y, θ, x, g, b, q, rdc（直流电阻），rs (esr), rp, ls, lp, cs,cp, d (tanδ), σ, ε
测量量程 100 mΩ~100 mΩ, 10档量程（所有参数由z规定）
显示范围 z: 0.00 m~9.99999 gΩ, y: 0.000 n~9.99999 gs, θ: ±(0.000°~999.999°), q: ± (0.00~9999.99), rdc: ± (0.00 m~9.99999 gΩ),d: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度 z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200mΩ）
测量频率 4 hz~8 mhz (10 mhz~100 hz步进)
测量信号电平 [v模式, cv模式]的[通常模式]
4 hz~1.0000 mhz: 10 mv~5 v (大50 ma)
1.0001 mhz~8 mhz: 10 mv~1 v (大10 ma)
[v模式, cv模式]的[低z高精度模式]
4 hz~1.0000 mhz: 10 mv~1 v (大100 ma)
[cc模式]的[通常模式]
4 hz~1.0000 mhz: 10 μa~50 ma (大5 v)
1.0001 mhz~8 mhz: 10 μa~10 ma (大1 v)
[cc模式]的[低z高精度模式]
4 hz~1.0000 mhz: 10 μa~100 ma (大1 v)
[直流电阻测量]: 1 v固定
dc偏压 发生范围：dc电压0~2.50 v (低z高精度模式时0 ~1 v)
输出阻抗 通常模式：100 Ω, 低z高精度模式: 10 Ω
显示 彩色tft5.7英寸，触摸屏
功能 比较器、bin测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口 ext i/o (处理器), /usb/u盘/lan/gp-ib/rs-232c, bcd输出
电源 ac 100~240 v, 50/60 hz, 50 va max
体积及重量 330w × 119h × 230d mm, 4.2 kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,cd-r（通讯说明书，lcr应用光盘）×1
探头·治具
※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。
smd测试治具im9100
直接连接型，底部有电极smd用，dc～8mhz，可测量样品尺寸：0402～1005（jis）
4端子探头9140-10
dc~200kh，50 Ω，1 m长
测试治具9261-10
线长1m，dc~5mhz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
测试冶具 9262
dc～8 mhz, 直结型
smd测试冶具 9263
直接连接型, dc～5 mhz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
dc偏置电压单元 9268-10
直接连接型，40hz~8mhz，大外加电压dc±40v
dc偏置电流单元 9269-10
直接连接型，40hz~2mhz，大外加电流dc 2a(大外加电压dc±40v)
4端子探头 9500-10
线长1m，dc~200khz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
smd测试治具9677
用于侧面有电极的smd
dc~120mhz，测试样品
尺寸：3.5mm±0.5mm
smd测试治具9699
用于底部有电极的smd
dc~120mhz，测试样品
尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
前端探针im9901
用于更换l2001的前端的通用尺寸，l2001标配
前端探针im9902
用于更换l2001的前端的小型尺寸
4端子探头l2000
dc~5mhz，1m长
镊形探头l2001
线长73cm，dc～8mhz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(im9901:jis尺寸1608～5750)（im9902：jis尺寸0603～5750）
pc通讯
gp-ib连接电缆 9151-02
2m 长
rs-232连接线9637
9pin-9pin 线缆, 交叉线缆，1.8m长
IM3536