锗材料检测中心，红外锗材料杂质含量测定

锗材料是指以锗元素为主要成分的半导体材料，具有优良的半导体性能、红外透光性、高折射率及稳定性，在高频器件、红外光学、太阳能电池、传感器等领域发挥关键作用，广泛应用于电子信息、航空航天、新能源、医疗器械、红外探测等领域，是高新技术产业的重要基础材料。

锗材料检测范围

锗单晶、锗多晶、锗晶片、锗粉末、锗靶材、红外锗材料、半导体锗材料、太阳能级锗材料、高纯锗材料、掺杂锗材料、锗合金材料、锗化合物材料

检测周期

一般到样后 5-7 个工作日（可加急）

锗材料检测项目

纯度检测、杂质含量测定、电阻率、载流子浓度、迁移率、晶体结构、晶向、晶格常数、表面质量、尺寸偏差、厚度均匀性、红外透过率、折射率、密度、硬度、抗拉强度、弯曲强度、热导率、热膨胀系数、化学稳定性、表面粗糙度、元素组成分析

锗材料检测标准

GB/T 11071-2006《硅、锗单晶电阻率测定方法》

GB/T1550-2021《硅单晶》（部分适用于锗单晶晶体性能检测）

GB/T 24581-2022《锗单晶》

GB/T 35304-2023《红外光学材料透过率测试方法》

GB/T 10701-2008《硅单晶中氧、碳含量的测定低温傅里叶变换红外光谱法》（可参照用于锗材料杂质检测）

GB/T 6610.5-2023《氢氧化铝化学分析方法 第 5部分：氧化钠含量的测定》（适用于锗材料中钠杂质检测）

SJ/T11566-2016《半导体材料用石英玻璃制品规范》（辅助用于锗材料加工配套检测）