上海 pcb失效分析,CNAS,CMA认证实验室

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更新时间
2025-12-10 07:09

详细介绍

PCB板失效分析:探究电子设备故障的根源

在现代电子设备中,PCB板作为核心组件,承担着连接和支撑各种电子元件的重要任务。然而,在实际应用中,PCB板可能会因各种原因出现失效,导致设备无法正常工作。因此,对PCB板进行失效分析显得尤为重要,它可以帮助我们找出问题的根源,从而采取有效的改进措施,提高产品的可靠性和使用寿命。

一、PCB板失效的常见原因

(一)机械损伤

PCB板在生产、运输或使用过程中,可能会受到外力的作用而产生机械损伤。例如,弯曲、扭曲等应力可能导致PCB板出现裂纹或断裂,尤其是在板上有较大尺寸的元件或通孔时,更容易发生这种情况。此外,不当的安装或拆卸操作也可能对PCB板造成机械损伤,如用力过猛导致元件焊点开裂或元件损坏等。

(二)热损伤

热损伤是PCB板失效的另一个重要原因。在电子设备运行过程中,元件会产生热量,如果散热不良,PCB板的温度会升高,可能导致材料性能下降、焊点融化或元件损坏。例如,当施加到线路板上的电压过高时,会产生过大的电流,对于较小的线路或元件,它们的功耗消耗能力有限,容易导致过电损伤。此外,长期处于高温环境下的PCB板,其上的环氧树脂等材料可能会碳化变黑,影响电路的正常工作。

(三)化学腐蚀

PCB板在某些恶劣的环境中使用时,容易受到化学物质的腐蚀。例如,在潮湿、盐雾或含有酸碱等腐蚀性气体的环境中,PCB板上的铜箔线路、焊点等部位可能会发生化学反应,导致线路断裂、焊点失效等问题。此外,助焊剂残留、清洗不彻底等也会引起化学腐蚀,影响PCB板的性能。

二、PCB板失效分析的方法

(一)外观检查

外观检查是PCB板失效分析的初步步骤,通过肉眼或借助光学显微镜等工具,观察PCB板表面是否存在明显的损伤、污染、腐蚀等异常情况。例如,检查是否有残留的助焊剂、灰尘、油污等污染物质,判断是否存在化学腐蚀导致的铜线断裂、焊盘损坏等问题,确定爆板的位置和裂纹形态等。外观检查可以为后续的深入分析提供直观的线索。

(二)X射线检测

X射线检测技术能够对PCB板进行非破坏性的内部结构检查。它利用X射线穿透PCB板,根据材料对X射线的吸收程度不同,形成图像,从而检测出内部的缺陷。例如,可以检查PCBA焊点内部的缺陷、通孔内部缺陷以及高密度封装的BGA或CSP器件的缺陷焊点的定位等。这种方法对于发现隐藏在内部的缺陷非常有效,且不会对PCB板造成损伤。

(三)切片分析

切片分析是将PCB板的特定区域制作成切片,在显微镜下观察其微观结构,以获取更详细的信息。通过切片分析,可以观察到PCB板内部的通孔、镀层等质量情况,如通孔的孔壁是否有缺陷、镀层的厚度是否均匀等。这种方法能够为分析PCB板的质量问题提供丰富的微观依据,有助于深入探究失效的原因。

(四)扫描声学显微镜检测

扫描声学显微镜(C模式超声扫描声学显微镜)基于高频超声波在材料不连续界面上反射产生的振幅、位相与极性变化来成像。它能够沿着Z轴扫描XY平面的信息,从而实现对PCB板内部各种缺陷的无损检测。例如,可以检测出PCB板内部的裂纹、分层、夹杂物以及空洞等缺陷。这种技术在检测内部缺陷方面具有独特优势,能够快速、准确地发现潜在问题。

(五)显微红外分析

显微红外分析是将红外光谱技术与显微镜相结合的一种分析方法。它利用不同材料(尤其是有机物)对红外光谱的不同吸收特性,来分析材料的化合物成分。借助显微镜的辅助,可以在可见视场下地寻找并分析微量的有机污染物。在电子工艺中,微量的有机污染往往会对PCB板焊盘或引线脚的可焊性产生严重影响,显微红外分析能够有效解决这一难题。

三、PCB板失效分析的案例

(一)板电后图电前擦花失效案例

在某次PCB板生产过程中,出现了板电后图电前擦花的问题。通过切片分析发现,断口处的铜表面光滑、没有被蚀痕迹,OPEN处的基材有或轻或重的被损伤痕迹(发白),形状多为条状或块状。进一步分析表明,可能是由于生产过程中操作不当或设备问题导致的擦花现象。针对这一问题,采取了优化生产工艺、加强操作规范等措施,有效降低了类似问题的发生率。

(二)铜面附着胶或类胶的抗镀物失效案例

在另一案例中,PCB板的铜面附着了胶或类胶的抗镀物,导致在后续的电镀过程中出现短路或残铜等问题。通过显微红外分析,确定了这些抗镀物的成分,并追溯到生产过程中可能的污染源。采取了加强原材料检验、改进清洗工艺等措施,解决了这一失效问题,提高了PCB板的质量和可靠性。

四、结语

PCB板失效分析是确保电子设备质量和可靠性的重要环节。通过对失效原因的深入探究和分析方法的合理运用,可以准确找出问题的根源,为改进生产工艺、优化产品设计提供有力支持。在未来的电子产业发展中,随着技术的不断进步和应用环境的日益复杂,PCB板失效分析将面临更多的挑战和机遇。我们需要不断探索新的分析技术和方法,提高分析的准确性和效率,以满足日益增长的高质量电子产品的需求。


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