扫描电镜检测 SEM微观形貌分析 场发射设备 第三方检测机构-优尔鸿信

sem+eds是一种组合检测设备，结合了扫描式电子显微镜（scanning electronmicroscopy，sem）和能量散射光谱仪（energy dispersivespectrometer，eds）。以下是对sem和eds的详细介绍：

sem（扫描电子显微镜）

定义：sem是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

工作原理：利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，激发各种物理信息，如二次电子、背散射电子等。这些信息会被探测器捕捉并转换成图像，从而揭示样品的表面形貌和结构信息。

应用：sem能够用于观察样品的微观形貌，如多孔、纤维状、交错等内部结构，并可用于微小颗粒物尺寸的量测，其测量范围可jingque至几十纳米，甚至达到3纳米（根据不同设备和条件）。

eds（能谱仪）

定义：eds是一种用于分析样品中的元素种类和含量的器械。

工作原理：eds通过检测电子束与样品互动时所产生的x射线，根据能量分布的差异来区分各种元素，并计算各元素的相对含量。具体来说，eds需在真空室条件下用电子束轰击样品表面，激发物质发射出特征x射线。根据特征x射线的波长，可定性与半定量分析样品表面微区的成分（即元素周期表中b-u的元素）。

应用：eds能够用于分析样品中的元素组成和化学组成，以及进行元素的定量分析。

当sem与eds结合使用时，可以实现对样品表面形貌的微观观察以及元素组成的定量分析。这种组合检测方法在材料科学、化学、生物学等领域具有广泛的应用价值。