铜镀层厚度检测 镍镀层厚度检测 镀锌层厚度检测

铜镀层厚度检测 镍镀层厚度检测 镀锌层厚度检测 

库仑法

适用于通过阳极溶解库仑法测量单层和多层金属涂层的厚度，包括测量多层系统的厚度，如cu/ni/cr、合金涂层和合金扩散层。它不仅可以测量平面样品的涂层厚度，还可以测量圆柱体和金属丝的涂层厚度。特别适用于测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量的涂层类型为au、ag、zn、cu、ni、dni、cr。

金相法

一种用金相显微镜测量金属涂层和氧化膜局部厚度的方法。通常，厚度测量需要大于1um，以确保测量结果在误差范围内；厚度越大，误差越小。

x射线法

适用于电镀、电子电路板等行业待分析金属镀层厚度的测量。它包括金（au）、银（ag）、锡（sn）、铜（cu）、镍（ni）、铬（cr）和其他金属元素的厚度。