技术参数●测定原理 x射线荧光分析法
●测定方法 能量色散型
●测定对象 固体、液体、粉体
●样品形状 大150mm× 150mm× 40mmh
●x射线管 rh靶
●检测器 si（li）半导体检测器（μedx-1200/1300型）
si漂移半导体检测器（μedx-1400型）
●测定范围 13al ~ 92u （μedx-1200型）
11na ~ 92u （μedx-1300型）
13al ~ 92u （μedx-1400型）
主要特点μedx系列x射线荧光光谱仪可以高灵敏度地分析很小的样品。对于需要高分辨率同时高x射线强度才能进行测定的电子部件、电路板以及材料中的异物等微小局部的测定，本装置可进行高灵敏度、高分辨率，分析直径小至50μm的分析。
本产品的品牌是shimadzu/岛津，型号是μedx-1200/1300/1400