1微米探针座高精度探针台IV测试台

产品信息：

◆主体材质采用航空铝合金，表面喷砂氧化，良好的机械性能，高强度，耐磨

◆位移部分采用进口交叉滚珠导轨，超高稳定性

◆整体驱动采用进口高分辨率微分头，提高整体位移精度

◆匹配多功能调节夹具，可以180°旋转+精密60°定向倾斜，适用于在显微镜下定向调节探针，不阻挡视野

◆底部超强可调磁性底座，可以通过旋钮调节磁力的有无，磁性吸附10kg，保证了扎针稳定性

◆可以升级真空吸附，搭配真空泵，7l/min

技术参数：

◆探针位移行程：xyz三维分别13mm+180°旋转+精密60°角度倾斜（可锁紧）

◆整体结构外形尺寸：300mm×65mm×142mm（lwh）

◆探针位移精度：1μm

◆漏电精度：同轴线缆（10pa）

            进口三同轴线缆（100fa）

◆可选接头：同轴线缆可选择bnc、鳄鱼夹、香蕉插头、n型、sma等

            进口三同轴线缆可选择三同轴接口(triaxial)

◆测量范围：电流：10pa/100fa-10a

            电压：≤1400v

◆适用于r/f量测、i/o点量测、直流dc测试、晶圆测试、电阻电压测试、太阳能电池测试、光电流测试、半导体器件分析测试等