故障失效模式分析,阀门水压试验
- 供应商
- 无锡万博检测科技有限公司
- 认证
- 报价
- ¥100.00元每件
- 联系电话
- 13083509927
- 手机号
- 18115771803
- 销售经理
- 奚家和
- 所在地
- 无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
- 更新时间
- 2024-05-10 11:00
故障失效模式分析,阀门水压试验
芯片加工中的缺陷与成品率预测
芯片制造缺陷的分类:
全局缺陷:光刻对准误差、工艺参数随机起伏、线宽变化等;在成熟、可控性良好的工艺线上,可减少到极少,甚至几乎可以消除。
局域缺陷:氧化物针孔等点缺陷,不可完全消除,损失的成品率更高。
点缺陷:冗余物、丢失物、氧化物针孔、结泄漏
来源:灰尘微粒、硅片与设备的接触、化学试剂中的杂质颗粒。
2、混合集成电路的失效
混合集成电路工艺:
ic工艺:氧化、扩散、镀膜、光刻等
厚膜工艺:基板加工、制版、丝网印刷、烧结、激光调阻、分离元器件组装等
薄膜工艺:基板加工、制版、薄膜制备、光刻、电镀等
展开全文