二维材料测试,二维材料检测机构

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北京清析技术研究院
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联系人
严工
所在地
北京市海淀区王庄路1号B座6层7-C房间
更新时间
2024-06-10 08:00

详细介绍

二维材料,是指电子仅可在两个维度的非纳米尺度(1-100nm)上自由运动(平面运动)的材料,如纳米薄膜、超晶格、量子阱。二维材料是伴随着2004年曼彻斯特大学geim小组成功分离出单原子层的石墨材料——石墨烯(graphene)而提出的。关于二维材料,清析研究院可提供shg偏振检测、光电流信号检测、电学性能检测、导电性检测、荧光检测、二次谐波检测、电导率检测、热稳定性检测、电化学性能检测、tem检测、xrd检测、力学性能检测、xps检测、afm检测、纳米激光粒度仪检测、热电性能检测、紫外吸收光谱检测、拉曼光谱检测、杨氏模量检测、压痕检测、贴附性检测、电接触性能测试等。同时,清析研究院可对二维纳米材料、层状二维材料、新型二维材料、二维磁性材料、二维晶体材料、二维光电材料、二维薄膜材料、二维功能材料、二维结构材料、二维超导材料、二维热电材料等进行检测。


二维材料表征手段

1、x射线衍射(x-ray diffraction,xrd)

x射线衍射是一种常用的结构表征手段,可用于确定二维材料的晶体结构、晶格参数和取向。利用x射线与材料相互作用的原理,可以通过衍射峰的位置和强度来确定材料的结晶性、晶格常数和取向程度。

2、透射电子显微镜(transmission electronmicroscopy,tem)

tem是一种高分辨率的显微镜技术,可用于观察二维材料的立体结构、晶格形貌和缺陷情况。通过透射电子束与材料相互作用,可以获取高分辨率的二维材料图像,并可通过选择区域电子衍射(selectedarea electron diffraction,saed)技术来确定晶格取向和晶格常数。

3、扫描电子显微镜(scanning electronmicroscopy,sem)

sem是一种表面形貌观察技术,通过扫描电子束与样品相互作用,形成二维材料的表面形貌图像。sem可以提供二维材料的表面形貌、粒径和形貌特征等信息。

4、原子力显微镜(atomic forcemicroscopy,afm)

afm是一种用于观察材料表面形貌和测量表面力学性质的技术。afm利用在探针和样品之间的相互作用力来生成高分辨率的表面拓扑图像。对于二维材料,afm可以提供单层厚度的高分辨率形貌图像。


二维材料检测标准举例

1、t/cstm 00003-2019 二维材料厚度测量原子力显微镜法

2、gb/t 30544.13-2018 纳米科技 术语第13部分:石墨烯及相关二维材料

3、xp cen iso/ts 80004-13:2020 纳米技术 词汇第13部分:石墨烯和其他二维材料

4、gb/t 40069-2021 纳米技术 石墨烯相关二维材料的层数测量拉曼光谱法

5、gb/t 40071-2021 纳米技术 石墨烯相关二维材料的层数测量光学对比度法

6、iec ts 62607-6-16:2022纳米制造.关键控制特性.第6-16部分:二维材料.载流子浓度:场效应晶体管法

7、pd cen iso/ts 80004-13:2020 纳米技术 词汇石墨烯及相关二维(2d)材料

8、ks c iec 61340-2-3:2014 静电学第2-3部分:避免静电放电积累用固体二维材料的电阻和电阻率测定方法

9、uni cen iso/ts 80004-13:2021 纳米技术 词汇第13部分:石墨烯和相关二维(2d)材料

10、iso/ts 80004-13:2017纳米技术词汇第13部分:石墨烯及相关二维(2d)材料


二维材料检测时间周期

到样后7-10个工作日(可加急),根据样品及其检测项目/方法会有所变动,具体需咨询工程师。


二维材料检测流程

1、沟通需求(在线或电话咨询);

2、寄样(邮寄样品支持上门取样);

3、报价(根据检测的复杂程度进行报价);

4、签约(签订合同和保密协议);

5、完成检测(检测周期会根据样品及其检测项目/方法会有所变动,出具检测报告,售后服务)。

以上就是关于二维材料检测的介绍,北京清析技术研究院提供分析、检测、测试、鉴定、研发等技术服务,已获得cma、cnas等资质证书。总院位于北京,在上海、广州、深圳、合肥、南京、成都、武汉等地区设立27家分院,工程师一对一咨询,寄样或上门任您选择,为您提供便利的检测服务。

二维材料测试,二维材料检测,二维材料检测机构

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