电子元件腐蚀失效分析，螺丝弯曲度测试

电子元件腐蚀失效分析，螺丝弯曲度测试

通常取4级～6级应力水平；用成组法测定其中等寿命区的疲劳寿命，每组试样的数量一般随应力水平的降低而增加；用扭转疲劳极限（τd）的测定方法测定其长寿命区的扭转疲劳极限。

用逐点描迹法或小二乘法，拟合上述试验数据点即成s-n曲线。

七、试验结果的表示方法

试验结果有下列两种表示方法：

①　列裹法

表中应包括如下内容：试验顺序、试样号、试样形状和尺寸及表面粗糙度、频率、应力、循环次数、中等寿命区的平均寿命和长寿命区的扭转疲劳极限。

②　图示法

s-n曲线是常用的一种表示疲劳试验结果的方法。绘制s-n曲线时，以应力为纵坐标，以疲劳寿命为横坐标。

疲劳寿命采用对数坐标，应力采用线性坐标或对数坐标。