金属检测机构中心，腐蚀电位检测

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波长色散x射线荧光光谱仪原理

在x射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级x射线(即x荧光)。波长色散型x射线荧光光谱仪(wdxrf)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征x射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征x射线的波长及各个波长x射线的强度，可以据此进行定性分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定而受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起到了重要作用。