半导体开盖失效分析 XPS扫描电镜测试报告 第三方检测机构

失效分析是芯片测试重要环节，无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品，失效分析可以帮助降低成本，缩短周期。

常见的失效分析方法有decap，x-ray，sat，iv，emmi，fib，sem，edx，probe，om，rie等，因为失效分析设备昂贵，大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备，因此借用外力，使用对外开放的资源，来完成自己的分析也是一种很好的选择。