智能开关的寿命测试
- 供应商
- 深圳市中鉴检测技术有限公司
- 认证
- 报价
- ¥100.00元每件
- 品牌
- CCTI
- 型号
- 1688
- 产地
- 深圳
- 联系电话
- 15811802786
- 电话微信联系
- 13760348529
- 经理
- 毛习武
- 所在地
- 深圳市宝安区福海街道永福路118号港华兴工业园E栋A座一层
- 更新时间
- 2024-12-29 09:00
智能开关的寿命测试
按键作为产品的重要组成部分,其质量和可靠性直接影响用户的使用体验和产品的寿命。为了提升产品的品质,验证产品按键的使用寿命,按键寿命试验项目就非常重要。
1、按键寿命试验介绍:
按键寿命测试是针对手机、电脑、鼠标、键盘、摇控器等之按键、通讯类等硅胶按键及金属弹片按键之使用寿命,对微动开关,橡胶开关等按键寿命均适用。按键寿命测试可以模拟键盘类真实使用情况,支持校力装置,真实反映按键耐打击能力。
2、按键寿命试验适用范围
用于点击开关、按键、带锁和不带锁开关疲劳寿命测试,如手机、电脑、鼠标、键盘、摇控器、游戏手柄等。
3、按键寿命试验条件:
测试次数:需要进行按压的次数,一般由客户决定;
测试压力:施加到按键上面的负荷,如250g、500g;
测试速率:两次按压之间的间隔,一般多少次每分钟;
4、按键寿命试验判定:
按照客户提供的实验条件测试完成后,
对样品进行外观检査如:各按键外观应无深度刮痕、无深度变形、无破裂、明显松动等现象;
对样品进行功能检查如:按键能正常动作,指示灯正常显示,各类功能均能正常控制等。
深圳市中鉴检测技术有限公司(中文检测:中鉴检测,英文全称:shenzhen cctitechnology co., ltd.,简称:cctitest)是一家综合性、专业性、全球性的第三方检测认证机构,可一站式提供产品emc电磁兼容、lvd低电压安全、rf无线射频、rohs环保、ccc、iso体系、ip防尘防水、ik防撞等级测试、盐雾试验、高低温循环、冷热冲击试验、uv老化试验、氙灯老化试验、震动试验、跌落试验、按键寿命试验等一系列产品安全可靠性检测,欢迎来电交流!
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