国标标准：GB/T 5594.5《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法》
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- 深圳市实测通技术服务有限公司
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- 5-7天
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- 17324413130
- 检测工程师
- 罗卓文
- 所在地
- 深圳市罗湖区翠竹街道翠宁社区太宁路145号二单元705
- 更新时间
- 2024-05-26 20:00
| 标准号standardno. | 中文标准名称standard title inchinese | 英文标准名称standard title inenglish | 状态 state | 备注 remark |
| gb/t5594.5-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法 | test methods forproperties of structure ceramic used in electronic components--testmethod forvolume resistivity | 现行 | 1986-12-01实施 |
本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500°c范围体积电阻率的测定。
标准全文查看/下载
https://c.gb688.cn/bzgk/gb/showgb?type=online&hcno=67c88dad13e29c2e75a614dd9e4577a1
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