XRF矿产成分检测 XRD矿物物相组成检测

xrf矿产成分检测 xrd矿物物相组成检测

xrd全称x射线衍射,利用x射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后x射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。

通过对材料进行x射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。x射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被x射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。

x射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,x射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。

当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用xrd物相鉴定功能，分析各结晶相的比例；很多材料的性能由结晶程度决定，可使用xrd结晶度分析，确定材料的结晶程度；新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用xrd可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标；产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用xrd可以快捷测定微观应力；纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用x射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。